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两种激光测厚方式激光测厚是一种常见的测量方法，可以利用激光技术高精度地测量各种不同材料的厚度。在实际应用中，激光测厚有两种常见的方式：单点测量和扫描测量。本文将对这两种方式进行详细介绍。 1. 单点测量 单点测量是最简单、最常见的激光测厚方式。它的原理是将激光测厚传感器放置在需要测量的物体表面上，通过激光束对物体表面进行照射，然后测量激光束反射回来的时间差，从而计算出物体的厚度。这种方式测量速度较快，适用于单个点或少量点的测量。 2. 扫描测量 扫描测量是一种高效、高精度的激光测厚方式。它的原理是将激光测厚传感器与扫描器相结合，通过扫描器控制激光束在物体表面上进行扫描，然后测量反射回来的光信号的时间差，从而计算出物体的厚度。这种方式可以快速地测量大面积的物体表面，测量精度较高，适用于复杂物体表面的精确测量。 需要注意的是，扫描测量相对于单点测量来说，其测量精度更高，但使用成本也更高。因此，在实际应用中需要根据具体情况进行选择。 综上所述，激光测厚有两种常见的方式：单点测量和扫描测量。单点测量速度快，适用于单个点或少量点的测量；扫描测量精度高，适用于复杂物体表面的精确测量。在实际应用中需要根据具体情况选择合适的方式。 上一篇探究激光测厚机的工作原理下一篇探究激光测厚对纸板的影响 |
